Kokavecz János: Az added-mass rugólemez kalibrációs módszer elméleti vizsgálata Read more… Started by TINC 0 Replies
Takács Viktor: Amorf félvezető rétegeken írott mikro-nanoreliefek AFM vizsgálata Read more… Started by TINC 0 Replies
Kutnyánszky Edit és Kiss Éva: Polimer vékonyrétegek morfológiai jellemzése Read more… Started by TINC 0 Replies
Jessica Kang: Defining excellence in Nanometrology (Park SYSTEMS) Read more… Started by TINC 0 Replies
Gerald Kada: Advances in Scanning Probe Microscopy Techniques (Agilent) Read more… Started by TINC 0 Replies
Jenei Attila: AFM és Közeli Mezõ Optikai Mikroszkópos (SNOM) mérések biológiai rendszereken Read more… Started by TINC 0 Replies
Végh Attila Gergely: Az indolicidin és a biológiai membránok kölcsönhatása Read more… Started by TINC 0 Replies
A. Berkó, A. Bergbreiter, H. Hoster, R. J. Behm: Kémiai kontraszt atomi felbontású STM felvételeken: Ru-Pt felületi ötvözetek vizsgálata Read more… Started by TINC 0 Replies