Az MTA Kémiai Kutatóközpont, Nanokémiai és Katalízis Intézet, Felületmódosítás és Nanoszerkezetek Osztálya és az Agilent Technologies hivatalos magyarországi képviselete, a Kromat Kft. szeretettel meghívja Önt és kedves kollegáit

Új alkalmazások a pásztázó tűszondás mikroszkópia területén

c. szemináriumára

2011. május 31-én, kedden.

Helyszín: MTA Kémiai Kutatóközpont

1025 Budapest, Pusztaszeri út 59-67., IV. épület II. emelet tanácsterem

Program:

09:00 – 09:30 Regisztráció

09:30 – 09:45 Bemutatkozás, bevezető

09:45 – 10:15  Applications of Electrochemical Scanning Probe Microscopy from Agilent Technologies - Gerald Kada (Agilent Technologies)

10:15 – 10:45 Kelvin Probe and Scanning Microwave Microscopy on Semiconductors and Organic Thin Films - Gerald Kada (Agilent Technologies)

10:45 – 11:00  Kávészünet

11:00 – 11:45  A „Pico” pásztázó tűszondás mikroszkóp egy évtizede az MTA Kémiai Kutatóközpontban – eredmények és tapasztalatok - Paszternák András, Keresztes Zsófia, Nyikos Lajos (MTA Kémiai Kutatóközpont)

11:45 – 12:45  Ebédszünet

12:45 – 14:15 Méréssel egybekötött készülék bemutató

14:15 -15:00 Kérdések, hozzászólások

Kérjük a mellékelt regisztrációs lapot szíveskedjenek visszaküldeni az info@kromat.hu e-mail címre vagy a következő fax számra: 06 1 319-8547.

A kutatóközpont munkatársai személyesen is leadhatják a jelentkezési lapot a IV. épület fsz. 1 vagy 1B laborjában.

Az ingyenes részvétel feltétele az előzetes regisztrálás!

Regisztrációs határidő: 2011. május 25.

 Regisztracios_lap_AFM_szemin%C3%A1rium_20110531.pdf